JM-3B振動(dòng)校驗(yàn)裝置 電渦流靜態(tài)校驗(yàn)儀

      JM-3B振動(dòng)校驗(yàn)裝置 電渦流靜態(tài)校驗(yàn)儀用于傳感器出廠(chǎng)檢驗(yàn)和用戶(hù)驗(yàn)收電渦流位移傳感器線(xiàn)性的必要工具，為了確保傳感器符合本公司出廠(chǎng)線(xiàn)性度、靈敏度要求，都需要使用靜態(tài)位移校準(zhǔn)儀校驗(yàn)以及對(duì)位移類(lèi)測(cè)量?jī)x表系統(tǒng)的標(biāo)定。

   用靜態(tài)位移校驗(yàn)儀檢驗(yàn)傳感器的線(xiàn)性特性曲線(xiàn)時(shí)，通常將傳感器的滿(mǎn)有效線(xiàn)性量程按20個(gè)等分點(diǎn)進(jìn)行校驗(yàn)（若為φ8探頭電渦流傳感器，其本身有效線(xiàn)性測(cè)量量程為2mm，當(dāng)按20個(gè)等分點(diǎn)進(jìn)行校驗(yàn)時(shí)，即每移動(dòng)試盤(pán)0.1mm后在前置器上讀出一個(gè)數(shù)據(jù)，以此操作，讀出20個(gè)數(shù)據(jù)，繪制傳感器輸出線(xiàn)性特性曲線(xiàn)，分析傳感器輸出曲線(xiàn)非線(xiàn)性誤差是否滿(mǎn)足≤±1％的要求）。位移靜態(tài)校準(zhǔn)儀試件盤(pán)應(yīng)避免接觸強(qiáng)磁性物質(zhì)，以防試件盤(pán)被磁化而改變其材料性質(zhì)，帶來(lái)測(cè)量誤差。

    JM-3B振動(dòng)校驗(yàn)裝置 電渦流靜態(tài)校驗(yàn)儀當(dāng)按20個(gè)等分點(diǎn)進(jìn)行校驗(yàn)時(shí)，即每移動(dòng)試盤(pán)0.1mm后在前置器上讀出一個(gè)數(shù)據(jù)，以此操作，讀出20個(gè)數(shù)據(jù)，繪制傳感器輸出線(xiàn)性特性曲線(xiàn)，分析傳感器輸出曲線(xiàn)非線(xiàn)性誤差是否滿(mǎn)足≤±1％的要求）。位移靜態(tài)校準(zhǔn)儀試件盤(pán)應(yīng)避免接觸強(qiáng)磁性物質(zhì)，以防試件盤(pán)被磁化而改變其材料性質(zhì)，帶來(lái)測(cè)量誤差。